導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)測量原理及技術(shù)優(yōu)勢
發(fā)布時(shí)間：2022-07-31 00:33:24來源：www.cbxx.com.cn來源：..
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一、導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)測量原理
導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比。
低強(qiáng)度電磁脈沖以納秒級寬度被發(fā)射并沿著剛性或柔性的導(dǎo)體以光速行進(jìn)，當(dāng)脈沖接觸到介質(zhì)表面時(shí)被反射。反射信號被儀表接收，發(fā)射脈沖與接收脈沖的時(shí)間間隔與基準(zhǔn)面到被測介質(zhì)表面的距離成正比。通過測量發(fā)射與接收的時(shí)間間隔，來實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)面至被測介質(zhì)表面距離的測量。
?、贂r(shí)間1：產(chǎn)生初始脈沖
?、跁r(shí)間2：沿導(dǎo)體向下行進(jìn)，速度 C（光速）
?、蹠r(shí)間3：脈沖遇到被測介質(zhì)表面發(fā)生反射
?、軙r(shí)間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄
?、菝}沖信號從被發(fā)射到被接收之間的時(shí)間差 T，與基準(zhǔn)面到介質(zhì)表面的距離 D 成正比：D=C×T/2
?、逌y量的基準(zhǔn)面是： 螺紋底面或法蘭的密封面
⑦A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲區(qū)
⑧運(yùn)行時(shí)，保證最高料位不能進(jìn)入測量盲區(qū)D
二、導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)技術(shù)優(yōu)勢
1、更高的動態(tài)信號和更窄的脈沖帶來更高精度與重復(fù)性；
2、低介電常數(shù)介質(zhì)的最佳選擇；
3、能量集中，具有更強(qiáng)抗干擾能力，大大提高了可靠性；
4、測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得優(yōu)異效果；
5、測量靈敏、刷新速度快、安裝簡便、牢固耐用、免維護(hù)；
6、幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復(fù)雜工況的影響；
7、采用兩線制回路供電的技術(shù)，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)省成本；
8、采用先進(jìn)微處理器和獨(dú)特回波處理技術(shù)，可適用于各種復(fù)雜工況；
9、發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體環(huán)境沒有無傷害；
10、帶有按鍵的顯示屏可方便設(shè)置儀表的參數(shù)；
11、更小的體積，減少安裝難度；
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